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产品介绍

测量和传感器专业组

home > 产品介绍 > 新产品(开发)
新产品(开发)

新产品

生产

纳米薄膜
激光雷达

纳米薄膜厚度测量

产品特征

纳米图案形状
薄膜厚度测量
曲折率
表面粗糙度

产品技术规格

波长范围 : RGB/whith light (可选)
再现性 : < 0.1nm
测量方式 : 线扫描
线尺寸 : 200mm(可选)
线分辨率 >1000
坐标台尺寸 : 可选
测量范围 : 200um X 200um