• HOME
  • CONTACT
  • Korean
  • English
  • Chinese
  • HOME
  • CONTACT
  • Korean
  • English
  • Chinese

应用

测量和传感器专业组

home > 应用 > 纳米薄膜

应用

纳米薄膜

大面积纳米薄膜厚度和曲折测量系统 标准研 & MSOTEK

线分辨率: 10k point以上
→ 可以线型测量
测量速度: > 150P / sec
→ 测量点可以增加
可以高速测量
→ 可以全数调查
有助于增加OLED收率
线分辨率: 10k point以上
→ 可以线型测量
测量速度: > 150P / sec
→ 测量点可以增加
可以高速测量
→ 可以全数调查
有助于增加OLED收率

产品描述

用X-Y坐标台 -> X轴移送替代
精密度 : < 1Å
Point测量方式 → Line 测量方式
LCD : 1500 points / min

可实时全数检查, 改善工程收率。